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GI Freeform 用于表面粗糙度和形状测量的三维自由曲面光学轮廓测量仪
- 2023-06-17-

泰勒•霍普森 的 PGI Freeform(相位光栅干涉)是一款多功能、高分辨率的三维自由曲面轮廓测量仪,用于高精度的自由曲面光学测量。它可以对自由曲面光学器件进行表面粗糙度和形状分析。

· 产品概述-

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灵活多样、高分辨率自由曲面测量系统
全新的PGI Freeform是一款灵活多样、高分辨率的光学测量系统,适用于高精密光学零件的自由曲面的测量。
能够为以下光学零件的提供栅格方向和径向的三维测量与分析:

· 球面

· 非球面

· 衍射面

· 自由曲面

PGI Freeform可与新的用于定义自由曲面的方程式相兼容,测量多种多样的自由曲面, 比如:

· 双环曲面

· 双圆锥面

· 变形非球面

· 椭球面

· NURBS曲面

· Zernike曲面

· 点云曲面

测量的整体性与重复能力

泰勒•霍普森PGI Freeform数十年的测量经验积累、超精密加工专业知识与有限元分析(FEA)优化设计相结合,可加工出低噪音、近乎完美的机械轴。
全新的软件操作界面,设置简单,可进行自由曲面的高精度分析。功能强大的PGI Freeform使其称为光学零件分析测量的选择。